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德国光芯片开发商VI系统公司推出晶元级测试平台

2015-12-09 14:42
瑾年Invader
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  Ofweek光通讯网讯  德国高性能半导体光芯片开发商VI系统公司今天宣布推出针对6寸晶元产品的测试服务。新的半自动的晶元探测仪可以在制造早期就进行电和光性能的测试。测试的参数包括了光输出功率,光谱,工作电压,偏压,驱动电流和暗电流等。此外,38GHz模拟工作频率测试和最高64Gbps的数字传输测试也包括在内。再有就是具有支持近场和远场分析工具,支持显微镜检查。

  VI系统表示这一测试平台可以在晶元切割前就进行性能测试,从而不会影响产出效率,降低了生产成本。VI将在明年2月16日到18日在旧金山举办的SPIE光子西部大会上展出这一产品。 展位号4147。

声明: 本文由入驻维科号的作者撰写,观点仅代表作者本人,不代表OFweek立场。如有侵权或其他问题,请联系举报。

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