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高思光电推出DWDM光谱测试设备TSPEC 1008 V2.0版本

2016-07-01 15:09
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  近日,高思光电正式发布DWDM光谱测试设备TSPEC 1008 V2.0版本,该设备基于可调谐扫描光源的原理,以其高精度、高效率、低成本的优势进一步获得客户的青睐,率先在业界领先的器件制造商产线上规模部署,相关测试产品已获得各大系统商的认可。

  高性能的光谱测试设备一直被国外厂商所垄断,其昂贵的价格让DWDM无源器件的生产测试成本居高不下,同时光谱仪等设备的测试效率在高精度模式下测试速度相对较慢,很大程度上限制了光谱的测试效率。高思光电推出的TSPEC 1008很好的解决了这些痛点,波长精度比光谱仪的高精度模式还高出一倍的同时,扫描周期缩短到1s以内,光谱的OSNR性能容限可以达到45dB以上,在满足DWDM filter产品测试要求的同时还可以支持要求更高的多波长合分波器件的测试,如AWG、INTERLEAVER、WSS、tunable Filter等器件。

  在这个把“带宽要做得象太平洋一样宽”的时代,带宽资源需求就如海水般无穷无尽,显然DWDM网络进一步下沉的趋势要求性能更高、价格更低的BIT资源。TSPEC 1008很好的满足了发展的需要,为DWDM生产测试提供了很好的低成本解决方案,为端到端降低带宽成本添砖加瓦,这也是获得主流厂商认可的根本原因所在。

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