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泰克为DSA8300采样示波器推出最新光模块

2017-04-06 08:43
华静一
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全球领先的测量解决方案提供商——泰克科技公司日前为DSA8300采样示波器推出最新光模块,其不仅拥有业内最高的模板测试灵敏度和最低的噪声,还提供了许多新功能,提高了生产容量,改善了当前100G设计投产时的良品率。泰克科技还为其400G测试解决方案推出了多种增强功能,包括IEEE以太网标准推动的发射机和色散眼图闭合(TDECQ) PAM4及光测试相关配套测量。

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在美国加里福尼亚州洛杉矶2017年3月23日举办的OFC光网络和通信展览会上,泰克科技演示了最新模块和功能,以及泰克为100G/400G光特性分析和验证提供的解决方案。

“随着100G设计投产,制造良品率变得至关重要。”泰克科技公司高性能示波器总经理Brian Reich说,“我们最低的固有噪声为测试结果提供了更多信心,推动着光器件和互连产品不断改善制造良品率。同时,我们通过提供完善的工具和功能,深入分析及高效调试新一代数据传输技术,继续引领400G发展。”

当安装在DSA8300采样示波器中时,最新80C17和80C18光模块提供了-14 dBm的模板测试灵敏度,超过了28 GBd PAM4标准要求,同时提供3.9 μW的业内最好的噪声性能,并支持广泛的波长。通过两通道80C18,光制造测试工程师可以使吞吐量和容量翻一番。如果器件发生故障,泰克提供了多种分析工具,可以分解噪声和抖动的信号成分,帮助工程师了解底层问题。

声明: 本文由入驻维科号的作者撰写,观点仅代表作者本人,不代表OFweek立场。如有侵权或其他问题,请联系举报。

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