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联讯仪器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

2022-12-08 11:31
来源: 联讯仪器

联讯仪器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

联讯仪器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

联讯仪器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

联讯仪器全新推出 PXIe 精密电源/测量单元 S2012C。其最小测量分辨率达10fA/100nV,输出电压高达±200V。进一步拓展了PXIe源表的应用场景,工程师可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 来测量低电流信号,同时PXIe SMU 的高通道密度、高速的测试吞吐率和灵活性可实现晶圆级参数测试、材料研究以及分析低电流传感器和集成电路的特性等多种应用。

高精度

S2012C分辨率高达10fA/100nV,电压精度100μV,电流精度10pA,可用于测量微小的泄漏电流等应用场合,泄漏电流通常在pA级别,S2012C搭配3同轴测量端子,用于nA级以下小电流测试。

Adaptive PFC系统

用户可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系统,用户可根据负载特性,调整相关参数,获得更精确,快速的输出特性。

高速测量

S2012C最高可支持1M的采样率,NPLC和采样率可根据需要设定,以满足高速高精度的测量场景。

构建多通道并行测试系统

基于PXIe的模块化架构便于构建紧凑的并行多通道测试系统,可扩展至数百个通道来满足晶圆级可靠性和并行测试需求。

直流I-V输出能力

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脉冲I-V输出能力

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SMU产品系列

联讯仪器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C

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关于联讯

联讯仪器是国内高端测试仪器和设备提供商。主要专注于高速通信测试,光芯片测试和半导体测试三大领域,可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪,通用数字源表等高端测试仪器,以及高速光电混合ATE, 激光器芯片老化机,激光器芯片测试机,硅光晶圆测试机,功率芯片测试机,晶圆老化机等高端测试设备。

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